DH3TRB2000
高溫高濕動態(tài)反偏老化測試系統(tǒng)
該系統(tǒng)針對SiC MOSFET進(jìn)行高溫高濕動態(tài)反偏老化測試,測試方法參考AQG324。每個試驗(yàn)區(qū)域可進(jìn)行最高10個工位的測試,工位具備獨(dú)立脈沖源配置??蔀槠骷峁?biāo)準(zhǔn)85℃/85%RH試驗(yàn)環(huán)境。具有試驗(yàn)器件短路脫離試驗(yàn)功能,可自動將故障器件脫離老化試驗(yàn)回路,不影響其他器件的正常試驗(yàn)。