LSIC老化機(jī)臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)
LSIC老化機(jī)臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)是一種非常重要的儀器,用于測(cè)試半導(dǎo)體芯片的老化性能。在半導(dǎo)體芯片長(zhǎng)期使用過(guò)程中,可能會(huì)發(fā)生性能降低,電容降低,漏電流的增加等現(xiàn)象,從而影響芯片的可靠性和性能。為此,需要在實(shí)驗(yàn)室中通過(guò)LSIC老化機(jī)臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)來(lái)評(píng)估芯片的老化性能。
了解更多