點擊咨詢產品電容器高溫高濕老化測試系統(tǒng)(H3MKP2000)
該系統(tǒng)可對電容器進行高溫高濕(雙85)老化，老化過程中實時監(jiān)測被測器件的漏電流、電壓，并且根據(jù)需要記錄、導出老化數(shù)據(jù)。
功能
- nA級別的漏電流檢測精度
- 整機30s的全工位數(shù)據(jù)刷新
- 獨特高壓抑制電路，器件瞬間擊穿不影響其他工位老化進程
- 獨特的自動充放電回路設計
- 充分的實驗員人體安全考慮設定
產品特性
試驗溫區(qū) | 1個 |
試驗溫度 | 室溫-20~180℃ |
試驗濕度 | 25%rh~98%rh |
老化試驗區(qū) | 16區(qū)(8/16區(qū)可選) |
單區(qū)工位數(shù) | 40(典型) |
老化電壓范圍 | 0~1200V |
電壓檢測精度 | ±(1%+2LSB) |
電流檢測范圍 | 10nA~30mA |
電流檢測精度 | ±(1%+10nA) |
整機供電 | 三相AC380V±38V |
最大功率 | 12KW(典型) |
整機重量 | 1050KG(典型) |
整機尺寸 | 1650mm(W)×1750mm(D)×1950mm(H) |
適用標準
GJB360 MIL-STD-202E
適用器件
適用于片式陶瓷電容器（MLCC）、云母、薄膜、紙介、陶瓷和金屬化紙介電容器等